Nanoindentador ZHN/SEM para microscopios electrónicos de barrido

El ZHN/SEM es un nanoindentador completo especial que se desarrolló para un uso en espacios reducidos de la cámara de vacío de un microscopio electrónico de barrido (inglés SEM).

Ventajas y características destacables

  • El indentador se puede adaptar entre un amplio rango de requisitos del cliente.
  • Control de fuerza y recorrido disponible en el circuito de regulación cerrado o abierto.
  • Un método de medición dinámico con frecuencias disponibles de hasta 100 Hz para mediciones de fatiga y mediciones continuas de rigidez de forma opcional.
  • Una característica destacada del cabezal de medición es su gran utilidad en sentido de compresión y tracción en todo el rango de medición.
  • Sincronización del vídeo: La imagen capturada se puede visualizar mediante la transmisión de datos vía TCP-IP, en una ventana adicional en el PC REM.

Ámbito de aplicación

El nanoindentador ZHN/SEM para instalación en un microscopio electrónico de barrido (REM) permite llevar a cabo experimentos micromecánicos observando la probeta simultáneamente a máxima resolución. Actualmente, es el que ofrece el rango de medición más grande con una medición máxima de recorrido de 200 μm y una fuerza máxima de 200 mN con un ruido muy reducido de los sensores de fuerza y recorrido en un ambiente de bajas vibraciones. El equipo muestra una rigidez tan elevada que se pueden llevar a cabo mediciones de dureza convencionales sin problemas.

El sistema estándar ha sido desarrollado para la instalación de diferentes microscopios REM sobre el sistema de mesas, pero también se puede montar en la pared de la cámara. Se pueden continuar utilizando las opciones de vuelco y desplazamiento de la mesa REM.

  • El sistema está formado por:
  • el cabezal de medición con sensores y actuador
  • un sistema de mesa piezoeléctrico para el desplazamiento de la probeta en sentido XY y giro opcional alrededor del eje del indentador
  • una mesa Z mecánica rígida para el desplazamiento del cabezal de medición en sentido hacia la probeta
  • PC y controlador
  • software simple, útil y muy flexible
  • una o dos bridas con pasantes (específicas para REM)

Descripción técnica

Cabezal de medición ZHN0.2/SEM

N.º artículo

1020054

Tipo

ZHN/SEM

Fuerza de ensayo, máx. (Fmáx.)

aprox.. 200

mN[1]

Desplazamiento, máx.

aprox. 200 μm a 20 mN; aprox. 1500 μm a 200 mN

Resolución de carga, digital

≤ 0,02

μN

Resolución del recorrido, digital

≤ 0,001

nm

Nivel de ruido de la medición de fuerza (RMS)

≤ 0,5

μN

Nivel de ruido de la medición de recorrido (RMS)

≤ 0,5

nm

Sistema de mesas

Mesa X e Y: Área de movimiento (estándar)

21 x12

mm

Mesa X e Y: Precisión de posicionamiento

≤ 50

nm

Mesa X e Y: Resolución del sistema de medición

1

nm

Mesa Z: Rango de movimiento

15 (opcional 25)

mm

Mesa Z: Precisión de posicionamiento

≤ 0,1

μm

Mesa Z: Resolución del sistema de medición

50

nm

  1. Compresión y tracción
  • Para el uso en un microscopio electrónico de barrido (SEM)
  • Formado por un cabezal de medición, electrónica de control, unidad de control con monitor, teclado y ratón

Dimensiones del ZHN/SEM

Characterization of coatings in the nano range

As coatings become thinner, the difficulty in determining their physical properties increases. The limits of previously tried and tested surface engineering techniques are encountered and results become unreliable. Available from ZwickRoell is an efficient solution to this problem in the form of a tester developed specifically for characterizing mechanical surface properties in the micro and nano ranges.
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